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X 射線熒光測量系統(tǒng) |
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| 型 號(hào)：X-RAY 4000 |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：連續(xù)的在線測量和分析 |
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果洛X 射線熒光測量系統(tǒng)-X-RAY 4000-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測量系統(tǒng)，涂層測厚儀mikrotest，用于在光滑和壓印（包括帶有鑄模接觸面）的軸帶生產(chǎn)過程中，進(jìn)口測厚儀，進(jìn)行連續(xù)的在線測量和分析
特點(diǎn)
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用于在持續(xù)生產(chǎn)過程中對(duì)薄膜、軸帶和沖壓帶上的涂鍍層進(jìn)行連續(xù)測量
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可按照樣品運(yùn)動(dòng)方向正確調(diào)整測量頭的角度
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操作簡單，涂層測厚儀 北京時(shí)代，設(shè)置時(shí)間短
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X射線探測器可以為比例計(jì)數(shù)管，涂層測厚儀智昊，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
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有定位裝置，天津涂層測厚儀，用于測量多個(gè)位置進(jìn)行測量
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根據(jù)客戶需要專門設(shè)計(jì)
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自動(dòng)校準(zhǔn)
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可以快速地從一條生產(chǎn)線上轉(zhuǎn)移到另一條生產(chǎn)線
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可方便地集成到質(zhì)量控制系統(tǒng)和過程控制系統(tǒng)中
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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電鍍條帶，涂層測厚計(jì)，例如接觸點(diǎn)、沖壓帶
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測量熱鍍鋅鋼帶
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太陽能薄膜電池（光伏產(chǎn)業(yè)
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薄膜和條帶上的金屬涂鍍層
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電子工業(yè)及其供應(yīng)商
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生產(chǎn)過程監(jiān)控
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