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X 射線熒光測量系統，涂層測厚儀原理，用于在光滑和壓印（包括帶有鑄模接觸面）的軸帶生產過程中，覆層測厚儀，進行連續(xù)的在線測量和分析

特點

• 用于在持續(xù)生產過程中對薄膜、軸帶和沖壓帶上的涂鍍層進行連續(xù)測量
• 可按照樣品運動方向正確調整測量頭的角度
• 操作簡單，德國尼克斯涂層測厚儀，設置時間短
• X射線探測器可以為比例計數管，西安涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
• 有定位裝置，北京時代涂層測厚儀，用于測量多個位置進行測量
• 根據客戶需要專門設計
• 自動校準
• 可以快速地從一條生產線上轉移到另一條生產線
• 可方便地集成到質量控制系統和過程控制系統中  

典型應用領域

•  電鍍條帶，涂層測厚儀檢定規(guī)程，例如接觸點、沖壓帶
• 測量熱鍍鋅鋼帶
• 太陽能薄膜電池（光伏產業(yè)
• 薄膜和條帶上的金屬涂鍍層
• 電子工業(yè)及其供應商
• 生產過程監(jiān)控