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X 射線(xiàn)熒光測試儀，塑料涂層測厚儀，配有多毛細孔 X 射線(xiàn)光學(xué)系統，涂層測厚儀 fischer，可自動(dòng)測量和分析微小部件及結構上鍍層厚度和成分。

XDV-u鍍層厚度測量?jì)x特點(diǎn)

• 優(yōu)化的微區分析測試儀器
• 根據X射線(xiàn)光學(xué)系統，涂層測厚儀d3，可以對100 μm或更小的結構進(jìn)行分析
• 極高的能量強度，德國尼克斯涂層測厚儀，從而實(shí)現出色的精度
• 即使對于薄鍍層，麥考特涂層測厚儀，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
• 只適用于平面的或是接近平面的樣品
• 底部C型開(kāi)槽的大容量測量艙
• 通過(guò)快速、可編程的 XY 工作臺進(jìn)行自動(dòng)測量

XDV-u鍍層厚度測量?jì)x典型應用領(lǐng)域

• 測量印刷線(xiàn)路板、引線(xiàn)框架和芯片上的鍍層系統
• 測量細小部件和細電線(xiàn)上的鍍層系統
• 分析微小結構和微小部件的材料成分